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GC8808型PDHID氦離子化氣相色譜儀

更新時間:  2018-05-31

產品型號:  

產品報價:  

所  在  地:  北京市朝陽區望京西園222號星源國際D座1503室

產品特點:  高純氣痕量雜質分析 (H2, O2,N2,He, Ar, Ne, Ke, Xe等);
有毒氣體雜質分析;
電子氣體雜質分析;
食品添加劑中痕量組分分析;
六氟化硫分解物分析;

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產品概述

儀器應用:

高純氣痕量雜質分析 (H2, O2,N2,He, Ar, Ne, Ke, Xe)

有毒氣體雜質分析;

電子氣體雜質分析;

食品添加劑中痕量組分分析;

六氟化硫分解物分析

 

儀器特點:

推出PDHID多檢測器專用係列色譜儀

提供解決方案,安裝、調試、運行服務

儀器可靠性好、無障礙運行時間長

氣路控製有手動和EPC兩種使用得心應手

具有網絡傳輸無人值守完成統計分析監控功能

檢測器

電離模式:脈衝氦離子化

基線噪聲:≤0.1mv

基線漂移:≤0.5mv/30min

檢測下限:≤1.0×10-10g/ml

 

其他檢測器

氫火焰離子化檢測器(FID)

檢測限:≤3×10-12g/s(正十六烷/異辛烷)

基線噪聲:5×10-14A

熱導檢測器(TCD)

恒流,半擴散式

敏感度:S≥10000mv.ml/mg(正十六烷/異辛烷)

基線噪音:≤10μv

 

可加配FPD,NPD等檢測器

 

柱箱溫度:450℃

精度:±0.01℃

程升速率:max 80℃/min

支持雙柱箱雙後開門模式

氣路:EPC和手動

程序升壓:4階,0.01 mL/min或0.01Kpa

進樣:填充柱、毛細管分流/不分流進樣、閥自動進樣、頂空進樣、裂解進樣、熱解吸進樣、吹掃捕集進樣

矽鈍化:氣路及接頭均可選用

≤10μv

柱箱溫度:450℃

精度:±0.01℃

程升速率:max 80℃/min

支持雙柱箱雙後開門模式

氣路:EPC和手動

程序升壓:4階,0.01 mL/min或0.01Kpa

進樣:填充柱、毛細管分流/不分流進樣、閥自動進樣、頂空進樣、裂解進樣、熱解吸進樣、吹掃捕集進樣

矽鈍化:氣路及接頭均可選用

≤10μv

 

 

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聯係人:薛海玲  電話:010-84723211  郵箱:xuehail@163.com  總部地址:北京市朝陽區望京西園222號星源國際D座1503室

研發中心:北京市平穀區中關村科技園區興穀A區平和街39號院(聯東U穀)22號樓C區

產品應用中心:北京市海澱區高裏掌路3號院雲中心16號樓1A 101-3

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